Oberflächenphysik
Die Oberflächenphysik ist ein Teilgebiet der Festkörperphysik und beschäftigt sich mit der Geometrie, der elektronischen Struktur und der Adsorption von Stoffen an Oberflächen von Festkörpern.
Geometrie und Oberfläche
Unter der Oberfläche eines kristallinen Festkörpers versteht man den Bereich der Grenzfläche, in dem sich die geometrische und elektronische Struktur wesentlich von der des Volumenfestkörpers unterscheidet, das sind im Wesentlichen einige wenige Atomlagen von der Oberfläche aus gezählt.
Die Geometrie der Oberfläche wird mit zweidimensionaler Kristallographie beschrieben. Statt der 14 Bravais-Gitter im Dreidimensionalen gibt es in zwei Dimensionen nur fünf Bravais-Gitter, das Parallelogramm-, Quadrat-, Rechteck-, hexagonale und das rechteckig-flächenzentrierte Gitter.
Adsorption
Adsorption eines Stoffes an einer Oberfläche bedeutet, dass sich Atome oder Moleküle aus der Gasphase auf der Oberfläche anlagern und dort durch Van-der-Waals-Kräfte (Physisorption) oder chemische Bindungen (Chemisorption) gebunden werden. Daher sind alle Festkörper an Luft von mindestens einer ganzen Lage Moleküle oder Atome bedeckt. Um dies zu vermeiden, werden die meisten Experimente unter starkem Vakuum, meistens Ultrahochvakuum, durchgeführt.
Physisorbate sind meist sehr schwach gebunden, daher muss der Festkörper zur Untersuchung von Physisorbaten zumindest mit flüssigem Stickstoff, oft sogar mit flüssigem Helium gekühlt werden. Sie können durch Heizen auf relativ tiefe Temperaturen desorbiert, d. h., von der Oberfläche abgedampft, werden.
Chemisorbate sind meist stärker gebunden und manche können bei Raumtemperatur untersucht werden, für schwächer gebundene Chemisorbate ist eine Kühlung mit flüssigem Stickstoff ausreichend.
Liste von Verfahren der Oberflächenphysik
- Auger-Elektronen-Spektroskopie (AES)
- Photoelektronenspektroskopie (PES)
- Ultraviolettphotoelektronenspektroskopie (UPS)
- Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS)
- Photoelektronenbeugung (PED)
- Photoemissionselektronenmikroskopie (PEEM)
- Photoelektronenspektroskopie von adsorbiertem Xenon/Photoemission von adsorbiertem Xenon (PAX)
Ionenstreuspektroskopie
Massenspektroskopien:
- Infrarotspektroskopie (IR)
- Elektronen-Energieverlust-Spektroskopie (EELS)
- Optische Rasternahfeldmikroskopie (SNOM)
- Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM)
- Rastertunnelmikroskopie (STM)
- Rasterkraftmikroskopie (AFM)
Weitere:
- Beugung niederenergetischer Elektronen (LEED)
- Beugung hochenergetischer Elektronen (RHEED)
- Elektronenstrahlmikroanalyse (EPMA)
- Feldelektronenmikroskop (FEM)
- Feldionenmikroskop (FIM)
- Heliumatomstrahlstreuung (HAS)
- Helium-Ionen-Mikroskopie (SHIM)
- Metastabilen-Einschlag-Elektronenspektroskopie (MIES)
- Niederenergetisches Elektronenmikroskop (LEEM)
- Photoakustische Spektroskopie (PAS)
- Rasterelektronenmikroskop (REM)
- Röntgenabsorptionsspektroskopie: Röntgen-Nahkanten-Absorptions-Spektroskopie (NEXAFS) und SEXAFS
- Temperatur-programmierte Desorption (TPD), auch Thermische Desorptionsspektroskopie (TDS) genannt
- Oberflächensensitive Röntgenbeugung (SXRD)
Siehe auch
Literatur
- H. Lüth: Solid Surfaces, Interfaces and Thin Films. Springer Verlag; München, Berlin 2001, ISBN 3-540-42331-1
- K. Oura, V.G. Lifshits, A.A. Saranin, A.V. Zotov, M. Katayama: Surface Science. Springer Verlag, Heidelberg 2003, ISBN 3-540-00545-5